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產品資料

涂層測厚儀

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 涂層測厚儀
產品型號: 1100/2100/3100/4100
產品展商: 德國EPK公司
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簡單介紹

德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,涂層測厚儀各自具有不同的數據處理涂層測厚儀 功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準。


涂層測厚儀  的詳細介紹

德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點
MiniTest1100/2100/3100/4100
包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
涂層測厚儀所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術特征

 

德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數據量

應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

1

1

10

99

每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)

 

1

10

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數

 

1

500

500

涂層測厚儀數據總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統計計算功能

讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

 

讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

 

 

組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

 

 

 

分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

 

 

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

 

涂層測厚儀 其他功能

設置極限值

 

 

連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別*大*小值

 

 

連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

 

 

連續測量模式中顯示*小值

 

 

 

德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數

涂層測厚儀所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

*小曲率半徑
(凸/凹)

*小測量
區域直徑

*小基
體厚度

探頭尺寸




F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

 

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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